供应半导体老化筛选设备
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产品属性：
| 价格： | |
|---|---|
| 供货总量： | 1 |
| 所在地： | 广东深圳市 |
| 产品规格： | 00*00*00 |
| 包装说明： | 木箱 |
| 品牌： |
详细信息
半导体老化筛选设备
不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类，CPU，ASIC，系统LSI等逻辑装置，也对应各种MOS形的IC。
不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类，CPU，ASIC，系统LSI等逻辑装置，也对应各种MOS形的IC。
半导体老化筛选设备
